门电路的功能测试
门电路的功能测试是数字电路实验的重要组成部分，旨在验证逻辑门电路的正确性和稳定性。以下是进行门电路功能测试的基本步骤和要点：
实验目的
1. 验证门电路的基本逻辑功能。
2. 掌握门电路的测试方法和步骤。
3. 理解门电路的逻辑关系和功能。
实验仪器及材料
逻辑门电路芯片（如74LS00、74LS20、74LS86等）。
电路连接线。
电压表/万用表。
电源。
双踪示波器（可选，用于更复杂的测试）。
实验原理
与门 （AND gate） ：所有输入信号都为高电平时，输出为高电平，否则为低电平。
或门 （OR gate） ：只要有一个输入信号为高电平，输出为高电平，否则为低电平。
非门 （NOT gate） ：输入信号为高电平时，输出为低电平；输入信号为低电平时，输出为高电平。
实验步骤
1. 设计电路图，根据逻辑功能选择合适的逻辑门并连接。
2. 制作PCB板，根据原理图进行布线和元件安装。
3. 进行功能测试，手动输入不同的输入信号并记录输出信号。
4. 使用示波器等测试仪器进行调试和优化。
数据记录与分析
记录输入信号和对应的输出信号。
分析测试结果与理论预期的符合程度。
绘制真值表，并将实验结果填入表格中。
实验报告要求
画出各门电路的真值表。
根据实验结果，写出逻辑门的逻辑表达式。
分析测试结果，判断门电路功能是否正常。
注意事项
确保Vcc及地线连接正确。
示波器使用时应注意信号的同步和幅度设置。
逻辑门电路测试时，应分别测试每个门的逻辑功能。
通过上述步骤，可以系统地测试门电路的功能，并确保其满足设计要求。
